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　　奈米微粒逸散研究發現，當模擬危害源位於氣櫃內部中央，可變風量(VAV)氣櫃面速度下降及拉門開度提高時，奈米微粒逸散情形增加，雖然濃度不高，但部分時間可測得較明顯逸散情形。氣簾式(AC)氣櫃拉門開度由全開至低開時，發現在低開時有最多的微粒逸散。若模擬危害源置於氣罩內部左側，VAV氣櫃的面速度較高時及AC氣櫃的下吸速度較高時逸散情形較為明顯。使用VOC當作危害物時，測試結果也相同。電腦模擬所觀測之流場分布及微粒軌跡發現，氣流進入到氣櫃內部時，氣櫃皆會在拉門後方內部形成迴流區。當拉門開度較高時，危害物釋放後會隨氣流排出，並未觀測到逸散情形，但拉門開度降低時，危害物受到迴流影響移動軌跡較為複雜，在氣櫃內部不規則運動而累積，在VAV氣櫃模擬中也沒有發現逸散情形，只有在AC氣櫃且危害源在氣櫃左側模擬時有發現逸散情形。計畫所評估之VAV及AC氣櫃都可有效控制奈米微粒逸散，可供事業單位控制奈米微粒逸散參考。