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專利侵權判斷
專利侵權判斷
作者: 張仁平
出版社元照
出版日期:2023-11-01
語言:中文
ISBN:9786263690998
裝訂:平裝
定價680
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內容簡介
目錄書摘
導讀/序
作者介紹
  本書完整介紹發明及新型專利侵權判斷之理論及實務,內容充實深入,包括解釋請求項、文義侵權、均等侵權、均等論之限制事項、特殊態樣請求項之侵權判斷及專利侵權之抗辯等。



  在每個主要議題中,除了介紹國際上有關專利侵權判斷之規範及實務,包括美國、英國、德國、日本、中國大陸、歐洲專利公約、實質專利法條約等,另外比較其間之異同點,探討相關理論及實務問題。針對重要規範,並引述相關出處及重要內容,主要為美國法院相關判決,以利參考。



  本書適用對象廣泛,舉凡專利從業者(專利師、專利代理人、專利工程師、律師、智財及法務人員)之訴訟實務及研究參考,法院相關人員之審案參考,大專院校專利系所之課程教材等,皆可各取所需。